先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)

●先進(jìn)的電解電容極性測(cè)試技術(shù)可測(cè)率高達(dá)100％。

●開短路及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式自動(dòng)學(xué)習(xí)生成。

●電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，可達(dá)10個(gè)點(diǎn)。

●多連板程式自動(dòng)生成功能。

●CMOS+RELAY結(jié)合的開關(guān)板設(shè)計(jì)，使測(cè)試既快又穩(wěn)定

●R.L.C相位分離技術(shù)

●雜散電容OFFSET功能

●系統(tǒng)自我診斷功能。

●完整的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能，資料可自動(dòng)存儲(chǔ)，不因斷電而丟失數(shù)據(jù)。

●對(duì)小電阻使用特殊四線式測(cè)試模式，可排除探針與電路板之間不穩(wěn)定接觸電阻。

●應(yīng)用IC Clamping Diode特性，檢測(cè)IC腳位故障及焊接不良。

●體積小，重量輕，使用靈活，符合高科科技產(chǎn)品輕，薄，短，小的要求

TR518FV系統(tǒng)規(guī)格

測(cè)試點(diǎn)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)配備：256點(diǎn)可擴(kuò)充點(diǎn)數(shù)：2024點(diǎn)

測(cè)試時(shí)間開/短路測(cè)試: 1024點(diǎn)約0.5Sec每一零件: 1ms ~ 40ms可調(diào)

測(cè)試步驟無限制

隔離電路隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇，每測(cè)試步驟10點(diǎn)

開關(guān)板每一開關(guān)板有64通道

測(cè)試范圍電阻：0.05Ω至40MΩ　　二極管0.1 ~ 6V

電容：1.0pF至40mF 穩(wěn)壓二極管0.1 ~ 14V

電感：1.0uH至50H電晶體三端測(cè)試Vds, Cds , Rd(on)

可測(cè)電路板尺寸500mm x 350mm更大尺寸基板可依需求訂作

主控制電腦Pentium等級(jí)以上

顯示器低輻射LCD顯示器

打印機(jī)EPSON 40行雙色打印機(jī)

硬盤500GB

操作系統(tǒng)WINDOWS系統(tǒng)

RLC串并聯(lián)采用頻率測(cè)試法或相位分離法

電解電容器極性測(cè)試3端電解電容極性測(cè)試

空焊測(cè)試應(yīng)用IC Clamping Diode特性解決IC空焊問題

信號(hào)源AC電壓: 10mVPP ~ 2500mVPP

DC電壓: 10mV ~±1250mV

AC/DC電流: 10uA ~ 20mA

工作氣壓3 ~ 6Kgs/CM2

使用電源AC 220V±10% 50Hz

機(jī)器尺寸&重量1000mm(W) x 750mm(D) x 1600mm(H)?,約200Kg

規(guī)格若有變動(dòng)，則以本公司新發(fā)布之規(guī)格為準(zhǔn)。